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超细粉体的各种粒度分析方法对比及优缺点介绍

2017-08-16 20:373680中国粉体技术网
 超细粉体的各种粒度分析方法对比及优缺点介绍

 

粒度是粉体物料的重要特性之一,在粉碎工程的研究以及粉体产品的生产中,常常用到诸如物料的平均粒度、粒度组成和粒度分布等数据。这些数据就是通过各种粒度测定方法得到的。
 

(1) 筛分分析方法
 

最简单的也是应用最早的粒度分析方法是筛分法。但是,由于现今的标准筛(如泰勒标准筛)最细一般只到400目(相当于38μm),因此,对于小于10μm的超细粉体来说,不可能用标准筛进行粒度分析和检测。虽然新发展的电沉积筛网可以筛分小至5μm的粉体物料,但这种筛分技术由于筛分时间长和经常发生堵塞,很少在分析中使用。
 

筛分分析是利用筛孔大小不同的一套筛子进行粒度分级。对于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料,一般用筛分法测定其粒度组成和粒度分布。
 

筛分分析采用的套筛一般有两种:一种为非标准筛,实验室可以自己制造,用于筛分粗粒物料。筛孔大小一般为150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等,根据需要确定。另一种为标准套筛,用于筛分细粒物料,标准套筛是由一套筛孔大小有一定比例的、筛孔宽度和筛丝直径都是按标准制造的筛子组。上层筛子的筛孔大,下层筛子的筛孔小,另外还有一个上盖(防止试样在筛分的过程中损失)和筛底(用来直接接取最低层筛子的筛下产物)。
 

将标准筛按筛孔由大到小,从上到下排列起来,各个筛子所处的层位叫筛序;在叠好的筛序中,每两个相邻的筛孔尺寸之比叫筛比。有些标准筛有一个作为基准的筛子叫基筛,如泰勒标准筛以200目筛子作为基筛。表1所列为几种常见的标准筛。
 

粒度范围为6mm至0.038mm的物料的筛分分析,常用实验室标准套筛进行,可以用干法,也可以用湿法。如果对筛析的精确度要求不甚严格,通常直接进行干法筛析。但如果试样含水、含泥较多,物料互相粘结时,应采用干湿联合筛析法,筛析得到的结果才比较精确。
 

 常见标准筛

泰勒标准筛
英国标准筛
德国标准筛
国际标准筛
日本标准筛
网目
网目
网目
网目
孔/英寸
mm
孔/英寸
mm
孔/英寸
mm
mm
孔/英寸
mm
2.5
7.925
8
3
6.68
6.3
3.5
5.691
3.5
5.660
4
4.699
5
4.2
4.760
5
3.962
5
3.34
4
5
4.000
6
3.327
6
2.81
3.35
6
3.360
7
2.794
7
2.41
2.8
7
2.830
8
2.262
8
2.05
2
8
2.380
9
1.981
1.6
9.2
2.000
10
1.651
10
1.67
4
1.5
1.4
10.5
1.680
12
1.397
12
1.40
5
1.2
1.18
12
1.410
14
1.168
14
1.20
6
1.02
1
14
1.190
16
0.991
16
1.00
0.8
16
1.000
20
0.833
18
0.85
0.71
20
0.840
24
0.701
22
0.70
8
0.75
0.6
24
0.710
28
0.589
25
0.60
10
0.60
0.5
28
0.590
32
0.495
30
0.50
11
0.54
0.4
32
0.500
35
0.417
36
0.42
12
0.49
0.355
36
0.420
42
0.351
44
0.35
14
0.43
0.3
42
0.350
48
0.295
52
0.30
16
0.385
0.25
48
0.297
60
0.246
60
0.252
20
0.30
0.2
55
0.250
65
0.208
72
0.211
24
0.25
0.18
65
0.210
80
0.175
85
0.177
30
0.20
0.15
80
0.177
100
0.147
100
0.152
40
0.15
0.125
100
0.149
115
0.124
120
0.125
50
0.12
0.1
120
0.125
150
0.104
150
0.105
60
0.10
0.09
145
0.105
170
0.088
170
0.088
70
0.088
0.075
170
0.088
200
0.074
200
0.076
80
0.075
0.063
200
0.074
230
0.062
240
0.065
100
0.06
0.05
250
0.062
270
0.053
0.04
280
0.053
325
0.043
300
0.053
325
0.044
400
0.038

 (2) 其它粒度分析方法
 

当今用于超细粉体粒度检测的主要方法的沉降法(包括重力沉降和离心沉降)、激光粒度分析仪、显微镜、库尔特计数器以及用于测定比表面积的透过法和BET法。下表所列为这些方法的基本原理、测定范围及其主要特点。
 

超细粉休物料粒度测定方法

 

方法
仪器名称
基本原理
测定范围mm
特点



移液管法
分散在沉降介质中的样品颗粒,其沉降速度是颗粒大小的函数,通过测定分散体因颗粒沉降而发生的浓度变化,测定颗粒大小和粒度分布
1~100
仪器便宜,方法简单,安德逊液管法应用很广;缺点是测定时间长,分析,计算的工作量较大
比重计法
利用比重计在一定位置所示悬浊液比重随时间的变化没测定粒度分布
1~100
仪器便宜,方法简单,但测定过程工作量较大
浊定法
利用光过法或X射线透过法测定因分散体浓度就引起的浊度变化,测定样品的粒度和粒度分布
0.1~100
自动测定,数据不而处理便可得到分布曲线,可用于在线粒度分析
天平法
通过测定已沉降下来的颗粒的累积重量测定粒度和粒度分布
0.1~150
自动测定和自动记录,但仪器较贵,测定小颗粒误差较大



 
在离心力场中,颗粒沉降也服从斯托克斯定律,利用圆般离心机使颗粒沉降,测定分散体的浓度变化;或者使样品在空气介质离心力场中分级,从而得到粒度大小和粒度分布
0.01~30
测定速度快、是超细粉体颗粒的基本粒度测定方法之一,可得到颗粒大小和粒度分布,是较先进的测定方法之一,用途广泛
库尔特计数器
 
悬浮在电解液中的颗粒通过一小孔时,由于排出了一部分电解液而使液体电阻发生变化,迷种变化是颗粒大小的函数,电子仪器自动记录下粒度分岂有此理
0.4~200
速度快,精度高,统计性好,完全自动化,近年来应用较广,可得到颗粒粒度和粒度分布
激光粒度分析仪
 
根据夫琅和费衍射光用射原理测定颗粒粒度及粒度分布
0.05~3000
自动化程度高、操作简单、测定速度快、重复性好,可用于在线粒度分析

显微镜
 
光学显微镜
把样品分散在一定的分散液中制取样片,测颗粒影像,将所测颗粒按大小分级,便可求出以颗粒个数为其准的粒度分布
1~100
直观性好,可观察颗粒形状,但分析的准确性受操作人员主观因素影响程度大
扫描和透射电子显微镜
与光学显微镜方法相似,用电子束代替光源,用磁铁代替玻璃镜。颗粒用显微镜照片显示出来
0.001~100
测定亚微米颗粒袜度分布和颗粒开头的基本方法,广泛用于科学研究,仪器较贵,需专人操作
比表面积测定仪
透过法
把样品压实,通过测定空气浪过样品时的阻力,用柯境尼-卡曼理论计算样品的比表面积,引入形状系数,可换算成平均粒径
0.01~100
仪器简单,测定迅速,再现性好,但不能测定粒度分布数据。另外,测定时样品一定要压实
BET法
根据BET吸附方程式,用测定的气体吸附量求比表面积,引入形状系数,可换算成平均粒径
0.003~3
这是常用的比表面积测定方法,再现性好,精度较高,但数据处理较复杂


 

来源:中国粉体技术网

 


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